Atendiendo al artículo 11 del Reglamento UCA/CG03/2024, de 22 de abril, por el que se modifica el Reglamento por el que se regula el Régimen de Evaluación de los Alumnos de la Universidad de Cádiz, sobre Medidas para la evaluación de estudiantes con necesidades específicas, se informa de lo siguiente:
El estudiantado con necesidades específicas en el ámbito académico, discapacidad, dependencia y otras necesidades de apoyo, en caso de requerir ajustes en la evaluación de las asignaturas en las que estuviese matriculado, deberá solicitarlo a la Unidad de Atención a la Diversidad, a través del siguiente CAU: https://cau-diversidad.uca.es/cau/servicio.do?id=DI008
Las solicitudes de adaptación deberán presentarse preferentemente antes del inicio del periodo lectivo del semestre correspondiente o, en su caso, durante las dos primeras semanas de clases de cada semestre. Las solicitudes fuera de ese plazo solo serán atendidas en el caso de necesidades sobrevenidas.
Podrán consultar toda la información sobre el procedimiento y documentación a presentar en el siguiente enlace: https://diversidad.uca.es/adaptaciones-academicas/
BLOQUE I. FORMACIÓN PRÁCTICA EN MICROSCOPIA ELECTRÓNICA DE TRANSMISIÓN (24 h presenciales).Sesión 1 (4h).- Componentes básicos de la columna y periféricos de un microscopio de transmisión (TEM). Cuestiones básicas sobre el uso seguro de un microscopio de Transmisión. Subida de alta tensión, emisión de electrones, colocación de muestras y carga del portamuestras en el microscopio. Introducción a las operaciones básicas de alineación en modo transmisión. Recursos: Microscopio de transmisión Talos F200X G2 DME-UCA-Sesión 2 (4h).- Protocolo básico de alineación del microscopio en modo TEM. Procedimiento de operación con muestra cargada (enfoque, contraste, inclinación con goniómetros, orientación sobre mapas de kikuchi). Registro en cámara de diagramas de difracción e imágenes en modo transmisión. Recursos: Microscopio Talos F200X G2 DME-UCA.Sesión 3 (4h).- Cuestiones prácticas específicas sobre el registro de diagramas de difracción y de imágenes en modo de contraste de difracción. Diagramas de Kikuchi, de difracción de área seleccionada (haz paralelo) y en modo de haz convergente. Imágenes de contraste de difracción (DC) en dos haces (2B) en campo brillante (BF), campo oscuro (DF) y campo oscuro en haz débil (WBDF). Recursos: Microscopio Talos F200X G2 DME-UCA.Sesión 4 (4h).- Aspectos básicos del análisis e interpretación de diagramas de difracción e imágenes de contraste de difracción. Análisis de defectos estructurales extendidos en imágenes DC-2B. Recursos: Software de modelado y simulación de Microscopía Electrónica. Software para el análisis digital de imágenes de Microscopía Electrónica. Salas de ordenadores.Sesión 5 (4h).- Cuestiones prácticas específicas para el registro de imágenes de transmisión en modo de campo brillante en alta resolución (HREM). Recursos: Microscopio Talos F200X G2 DME-UCA.Sesión 6 (4h).- Análisis de diversos aspectos estructurales en base a imágenes de Alta Resolución (HREM). Identificación de fases y defectos. Simulación de imágenes en modo HRTEM. Recursos: Software de modelado y simulación de Microscopía Electrónica. Software para el análisis digital de imágenes de Microscopía Electrónica. Salas de ordenadores.
BLOQUE III. FORMACIÓN PRÁCTICA EN MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA (12 h presenciales).- Sesión 14 (4h). Revisión breve de fundamentos de la técnica AFM. Piezas del microscopio AFM Bruker Multimode 8-HR. Ajuste inicial del microscopio. Preparación de muestras para AFM: aspectos básicos. Modos de trabajo topográficos: contacto y tapping. Calibración XYZ del microscopio AFM usando una muestra patrón en modo tapping. Tratamiento de imágenes de AFM usando el software Gwyddion. Práctica AFM-1. Obtención y tratamiento básico de las imágenes AFM.- Sesión 15 (4h). Microscopio AFM Bruker Dimension Icon. Similitudes y diferencias con el modelo Multimode. Modo topográfico mejorado: PeakForce Tapping. Medidas nanomecánicas a partir de la curva de fuerza: PeakForce QNM (Quantitative NanoMechanics). Calibración de una sonda de AFM para la realización de medidas nanomecánicas cuantitativas. Tratamiento de imágenes de AFM con el software Gwyddion: superposición de mapas nanomecánicos con imágenes topográficas. Práctica AFM-2. Obtención y tratamiento de imágenes topográficas y de mapas de propiedades mecánicas de una muestra compuesta por dos polímeros (PS y LDPE). Recursos: Microscopio AFM Bruker Dimension Icon. Kit de calibración nanomecánica Bruker PFQNM-SMPKIT-12M. Sonda de AFM Bruker ScanAsyst-Air. Muestra de referencia Bruker PS-LDPE-12M. - Sesión 16 (4h). Modos avanzados del AFM: MFM y KPFM. Puesta a punto del microscopio para la operación de estos modos avanzados. Obtención de imágenes AFM modo MFM y KPFM. Tratamiento de imágenes con Gwyddion y evaluación de parámetros.
